|
序號(hào)
|
代碼
|
股票名稱
|
說明
|
| 1 | SZ300567 | 精測(cè)電子 | 信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)、AOI光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)、OLED調(diào)測(cè)系統(tǒng)、平板顯示自動(dòng)化設(shè)備、膜厚量測(cè)系統(tǒng)、光學(xué)關(guān)鍵尺寸量測(cè)系統(tǒng)、電子束缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、光學(xué)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、Memory老化（Burn-In）測(cè)試設(shè)備、Memory晶圓探測(cè)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（CP ATE）、Memory最終測(cè)試自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（FT ATE）、鋰電池檢測(cè)和生產(chǎn)設(shè)備、鋰離子電池電芯化成分容系統(tǒng)、無損檢測(cè)機(jī)、CIR組裝配線 |